一、GHJ-D供應優質介電常數及介質損耗測試儀概述：
介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數值顯示等新技術，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至z低，并保留了原Q表中自動穩幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精q。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。
該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。
二、GHJ-D供應優質介電常數及介質損耗測試儀技術指標：
1.   雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
2.   雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
3.   雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。
4.   自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
5.   全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
6.   DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精q、幅度的高穩定。
7.   計算機自動修正技術和測試回路z優化 —使測試回路 殘余電感減至z低，** Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。
8．使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。
技術特性
Q 值測量范圍
2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔
Q值測量范圍：2～1023。
Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
固有誤差
≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）
≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
20kHz～10MHz
≤5％±滿度值的2％；
10MHz～50MHz；
≤6％±滿度值的2％；。
工作誤差
≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）
≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
20kHz～10MHz
≤7％±滿度值的2％；
10MHz～60MHz；
≤8％±滿度值的2％
電感測量范圍
4.5nH ～ 140mH
14.5nH~8.14H